Chcete v zákazkách vyhľadávať?
Objednajte si náš premium účet a získajte spolu s vyhľadávaním v zákazkách aj ranné personalizované e-mailové notifikácie o nových zákazkách ktoré zodpovedajú vašim záujmom a kritériám.
Zoznam zákaziek pre CPV kód 38511100-1
| Názov | Zdroj | Ponuky do | Zadávateľ |
|---|---|---|---|
|
Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li) Verejná súťaž (Nadlimitná zákazka) 539 470 |
 |
02.09.2025 10:00 |
Ústav materiálového výskumu Slovenskej akadémie vied, verejná výskumná inštitúcia |
Späť na zoznam CPV